Park Systems Corp. kondigt de introductie aan van zijn nieuwste innovatie op het gebied van atomaire krachtmicroscopie (AFM), de Park FX200, ontworpen voor 200 mm monsters. De FX200 is ontwikkeld om te voldoen aan de behoeften van zowel onderzoeks- als industriële toepassingen en biedt aanzienlijke vooruitgang in AFM-technologie voor grote monsters.

De FX200 heeft een geavanceerde mechanische structuur die zorgt voor een aanzienlijk lagere ruisvloer en minimale thermische drift, waardoor de stabiliteit tijdens de metingen toeneemt. Deze verbetering zorgt voor een grotere nauwkeurigheid en betrouwbare prestaties gedurende langere gebruiksperioden. Met snellere Z-servoprestaties maakt de FX200 snel en nauwkeurig scannen over grote preparaatoppervlakken mogelijk.

Dankzij het verbeterde monsteraanzicht met hoog vermogen en autofocus kunnen onderzoekers uitzonderlijke helderheid en details bereiken in de AFM-beeldvorming, ongeacht het type monster of de toestand waarin het zich bevindt. De FX200 heeft verschillende geautomatiseerde functies om de werkzaamheden te stroomlijnen en de efficiëntie te maximaliseren. Automatische probeherkenning en -wisseling elimineren handmatige aanpassingen, terwijl een kleinere laserspot en automatische uitlijning de meetnauwkeurigheid en -consistentie verbeteren.

Macro-optiek biedt een volledig zicht op het monster van 200 mm, waardoor een uitgebreide analyse mogelijk is zonder dat er meerdere beelden bij elkaar gevoegd hoeven te worden. Deze mogelijkheid wordt versterkt door automatische opeenvolgende metingen op vooraf gedefinieerde coördinaten, waardoor efficiënt gegevens verzameld kunnen worden over grote monsteroppervlakken. Park FX200 is ontworpen met het oog op gebruiksgemak, met automatische AFM scanparameterinstellingen.

Dankzij deze intuïtieve interface kunnen onderzoekers zich richten op hun wetenschappelijke doelstellingen in plaats van op de configuratie van het instrument, wat de productiviteit en efficiëntie van de workflow ten goede komt. Bovendien maken de superieure prestatiemogelijkheden het apparaat ideaal voor een breed scala aan onderzoeks- en industriële toepassingen, waaronder het onderzoeken van oppervlaktemorfologie, het karakteriseren van mechanische eigenschappen en het onderzoeken van verschijnselen op nanoschaal. De Park FX200 vertegenwoordigt een aanzienlijke vooruitgang in AFM-technologie en biedt verbeterde precisie, geautomatiseerde efficiëntie en uitgebreide visualisatie van monsters.