NI heeft een snel convergerende cross-correlatie meettechniek aangekondigd om best-in-class error vector magnitude (EVM) prestaties te leveren met Wireless LAN (WLAN) signalen. De nieuwe techniek maakt gebruik van gepatenteerde technologie die ingenieurs in staat stelt zowel de nauwkeurigheid als de meetsnelheid van kritische EVM-metingen te verbeteren. Hiermee kunnen fabrikanten van WLAN-apparatuur de naleving van specificaties en de allernieuwste prestaties garanderen en tegelijk de tijd om het product op de markt te brengen versnellen.

De evolutie van de WiFi7 of IEEE 802.11be norm biedt de consumenten dramatische verbeteringen in de datadoorvoer door bredere kanaalbandbreedtes, verbeterde spectrumefficiëntie en modulatieschema's van hogere orde zoals 4096-QAM. WiFi7 introduceert ook nieuwe technische eisen voor fabrikanten van WLAN-apparatuur en vereist dat WLAN-systemen en -componenten aan strengere RF-prestatie-eisen voldoen. Een van de meest uitdagende RF-prestatiemetingen van nieuwe WiFi7 ontwerpen is de EVM-meting over grote RF-bandbreedte.

Om deze uitdaging het hoofd te bieden, heeft NI een multi-instrument meettechniek geïntroduceerd, die gebruik maakt van twee NI vectorsignaaltransceivers (VST's). De aanpak maakt gebruik van cross-correlatie signaalverwerking om de meetnauwkeurigheid te verbeteren en de WiFi7 prestatiespecificaties te bereiken. De nieuwe techniek implementeert gepatenteerde technologie die ingenieurs in staat stelt de tijd voor het uitvoeren van metingen met een extreem hoog dynamisch bereik en grote bandbreedte tot 100x te verkorten in vergelijking met traditionele cross-correlatiemethoden, afhankelijk van het scenario.

Het resultaat verkort de tijd die nodig is voor productkarakterisering, zodat testingenieurs sneller op de markt kunnen komen. De hierin beschreven EVM-meettechniek wordt beschermd door US Patent No. 10,841,019 en US Patent Publication No.: 20220065972.

Naast de verbetering van de meetprestaties bieden software-centrische PXI geautomatiseerde testsystemen toonaangevende flexibiliteit en schaalbaarheid. Door standaardisatie van NI's volledige platform van instrumentatie van DC tot mmWave, kunnen ingenieurs de totale karakterisatietijd verkorten en tegelijkertijd de testdekking vergroten. Hierdoor kunnen NI klanten hogere productprestaties leveren en tegelijkertijd de productontwikkelingsworkflow versnellen.